關(guān)鍵詞搜索： ROHS檢測儀，鹵素測試儀，x射線熒光光譜儀，重金屬檢測儀，鍍層膜厚分析儀，手持合金分析儀，手持礦石分析儀，手持土壤分析儀，ROHS2.0分析儀，rohs十項(xiàng)檢測儀，鄰苯檢測儀，色譜儀，光譜儀

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技術(shù)文章

2025
3-18

便攜式礦石元素分析儀其維護(hù)保養(yǎng)的詳細(xì)步驟如下
便攜式礦石元素分析儀是一種工業(yè)設(shè)備，基于光譜分析技術(shù)，能夠準(zhǔn)確分析礦石中的元素種類及含量。其主要采用X射線熒光（XRF）光譜分析技術(shù)。當(dāng)X射線照射到礦石樣品時(shí)，樣品中的元素會被激發(fā)出各種波長的熒光X射線。分析儀通過測量這些熒光X射線的強(qiáng)度，結(jié)合已知的元素特征譜線，進(jìn)行定性和定量分析，從而確定礦石中元素的種類和含量。便攜式礦石元素分析儀其維護(hù)保養(yǎng)的詳細(xì)步驟：一、日常維護(hù)清潔與外觀保養(yǎng)外殼清潔：每次使用后，用干凈、柔軟的布擦拭儀器外殼，去除灰塵、污漬和指紋。如果儀器表面有頑固污漬...
2025
2-3

使用手持式礦石分析儀時(shí)，需要注意以下事項(xiàng)
手持式礦石分析儀是一種便攜式的、基于光譜分析技術(shù)的設(shè)備，主要用于現(xiàn)場快速、準(zhǔn)確地分析礦石中元素的種類及其含量。其工作原理主要基于X射線熒光光譜分析技術(shù)（XRF）。當(dāng)X射線照射到被測樣品時(shí)，會激發(fā)樣品中對應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子，產(chǎn)生特征X射線。這些特征X射線的能量與元素的種類有關(guān)，因此可以通過測量這些特征X射線的能量來確定樣品中存在的元素種類及其含量。使用手持式礦石分析儀時(shí)，需要注意以下事項(xiàng)，以確保分析的準(zhǔn)確性和儀器的安全性：一、樣品準(zhǔn)備代表性：礦石樣品應(yīng)具有代表性，避免選取表面...
2025
2-1

手持式礦石分析儀的特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面
手持式礦石分析儀是一種便攜式的、基于光譜分析技術(shù)的設(shè)備，主要用于現(xiàn)場快速、準(zhǔn)確地分析礦石中元素的種類及其含量。其工作原理主要基于X射線熒光光譜分析技術(shù)（XRF）。當(dāng)X射線照射到被測樣品時(shí)，會激發(fā)樣品中對應(yīng)元素原子的內(nèi)層電子，產(chǎn)生特征X射線。這些特征X射線的能量與元素的種類有關(guān)，因此可以通過測量這些特征X射線的能量來確定樣品中存在的元素種類及其含量。手持式礦石分析儀的特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：一、便攜性手持式礦石分析儀體積小巧、重量輕，方便攜帶，使得用戶能夠隨時(shí)隨地進(jìn)行分析，...
2025
1-15

談?wù)刋射線熒光光譜儀在操作方面的建議
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法，其工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線激發(fā)樣品中的原子，使原子內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)時(shí)，會放射出特征X射線，即X射線熒光。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析。通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長（或能量）和強(qiáng)度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達(dá)到定性定量分析的目的。以下是對X射線熒光光譜儀操作建議的詳細(xì)介紹：1、準(zhǔn)備工作：確保儀器的電源、冷卻系統(tǒng)等設(shè)備正常運(yùn)轉(zhuǎn)。保持工...
2025
1-13

X射線熒光光譜儀有著怎樣的特點(diǎn)呢？
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法，其工作原理是X射線光管發(fā)出的初級X射線激發(fā)樣品中的原子，使原子內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷。在被激發(fā)的電子返回基態(tài)時(shí)，會放射出特征X射線，即X射線熒光。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析。通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長（或能量）和強(qiáng)度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達(dá)到定性定量分析的目的。X射線熒光光譜儀主要特點(diǎn)的詳細(xì)介紹：1、非破壞性分析：XRF技術(shù)不會對樣品造成任何形式的損害，使得珍貴或...
2024
12-30

ROHS測試儀的結(jié)構(gòu)介紹
ROHS測試儀，即RoHS檢測儀，是用于檢測電子電氣設(shè)備中是否含有RoHS指令所限制的有害物質(zhì)的儀器。這些有害物質(zhì)包括鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、多溴二苯醚（PBDE）和多溴聯(lián)苯（PBB）。以下是ROHS測試儀的結(jié)構(gòu)介紹：ROHS測試儀主要由以下幾個(gè)關(guān)鍵部分組成：激發(fā)源：ROHS測試儀通常使用X射線作為激發(fā)源。X射線與樣品中的元素相互作用，激發(fā)出元素的特征X射線，這是進(jìn)行元素分析的基礎(chǔ)。探測器：探測器用于收集樣品被激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線。能量色散X...
2024
12-2

XRF測試儀：現(xiàn)代元素分析的關(guān)鍵技術(shù)
XRF測試儀，即X射線熒光光譜儀，是一種基于X射線熒光（XRF）原理的分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。工作原理XRF測試儀的工作原理基于X射線與物質(zhì)相互作用的特性。當(dāng)高能X射線或伽瑪射線照射到樣品時(shí)，樣品中的原子被激發(fā)，內(nèi)層電子被逐出，造成電子能級的躍遷。在電子從高能級向低能級躍遷過程中，會釋放出特征X射線，即熒光X射線。這些熒光X射線的能量和數(shù)量與樣品中元素的種類和含量直接相關(guān)，通過探測和分析這些X射線，可以確定樣品的化學(xué)成分。技術(shù)優(yōu)勢快速、無損測...
2024
10-26

鍍層測厚儀是一種用于測量產(chǎn)品表面鍍層厚度的設(shè)備
?鍍層測厚儀?廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)和商檢等領(lǐng)域。鍍層測厚儀的主要功能包括測量鍍層厚度、數(shù)據(jù)管理和不同的測量模式，以滿足不同工作現(xiàn)場的需求?。鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。鍍層測厚儀的測量原理和技術(shù)特點(diǎn)如下：?測量原理?：鍍層測厚儀可以采用多種測量方法，包括磁性測...
2024
10-24

X熒光光譜儀是一種用于元素分析和化學(xué)分析的儀器
?X熒光光譜儀(XRF光譜儀)是一種用于元素分析和化學(xué)分析的儀器，適用于金屬、玻璃、陶瓷、建材、地球化學(xué)、法醫(yī)學(xué)、考古學(xué)等領(lǐng)域。?X熒光光譜儀利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料，激發(fā)出次級X射線，這種現(xiàn)象被稱為X射線熒光(XRF)。這些次級X射線具有不同的能量或波長特性，通過檢測這些特征X射線，可以確定樣品中的元素組成和含量?。分類根據(jù)其結(jié)構(gòu)和測量原理的不同，X熒光光譜儀可以分為波長色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種。波長色散型通過測量不同波長的X射線強(qiáng)度來進(jìn)...
2024
10-15

XRF測試儀：高效準(zhǔn)確的元素分析儀器在現(xiàn)代科研與工業(yè)檢測中的應(yīng)用
在科技日新月異的今天，各種精密儀器在科研、工業(yè)、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其中，X射線熒光光譜儀（簡稱XRF測試儀）以其高效、準(zhǔn)確的元素分析能力，成為了眾多領(lǐng)域重要的分析工具。XRF測試儀的工作原理基于X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象。當(dāng)高能X射線照射到被測樣品上時(shí)，樣品中的原子會吸收X射線能量并躍遷到高能級，隨后迅速返回到低能級，釋放出特征X射線熒光。這些熒光射線的能量和波長與樣品中元素的種類直接相關(guān)，因此，通過檢測這些熒光射線的特征，XRF儀能夠迅速、準(zhǔn)確地確...

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